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艾思荔復(fù)疊式hast老化試驗箱 的目的是提高環(huán)境應(yīng)力（如：溫度）與工作應(yīng)力（施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等）
溫馨提示： 艾思荔復(fù)疊式hast老化試驗箱的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓 hast老化試驗箱產(chǎn)品規(guī)格： 溫度范圍：+100.0℃~+142.9℃ 濕度范圍：75%~100%RH 溫濕度穩(wěn)定度：±0.5℃、±3℃RH 溫度分布均度：±1℃ 壓力范圍：0.2~2.0kg/cm2G（選配0.2~4.0kg/cm2G） 升溫時間：室溫上升140℃需約120分鐘 內(nèi)箱尺寸：￠45×45/￠65×60 材質(zhì)：內(nèi)外不銹鋼板 電源：1￠220V60HZ/380V50HZ20A hast老化試驗箱產(chǎn)品特點： 1 2、馬達(dá)驅(qū)動磁性風(fēng)扇機(jī)構(gòu)循環(huán)（溫度/濕度分布均勻佳） 3 4 5、電磁風(fēng)扇馬達(dá)循環(huán)裝置濕度分布均勻 6 7 復(fù)疊式hast老化試驗箱詳細(xì)說明 隨著半導(dǎo)體可靠性的提高
本產(chǎn)品報價為參考價格，僅作支持網(wǎng)上展示用途。
產(chǎn)品具體規(guī)格、價格以我司銷售溝通報價為主。、負(fù)荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的磨耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗
。
、圓形橫置式內(nèi)槽結(jié)構(gòu)設(shè)計方便使用者取置待測品
、安全程序自動停機(jī),自動泄壓,自動破真空,自動給水
、HAST設(shè)備本體材質(zhì)SUS#316,外部包裝材質(zhì)SUS#304
、飽和或不飽和可程控模式
、溫度/濕度/濕球/溫度/壓力/電壓顯示
，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效
，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗效率
、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法
。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST）現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC（電工委員會）所標(biāo)準(zhǔn)化。
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