解析冷熱沖擊試驗(yàn)箱所能滿足的標(biāo)準(zhǔn)
冷熱沖擊試驗(yàn)箱金屬、塑料 冷熱沖擊試驗(yàn)箱所能滿足的標(biāo)準(zhǔn)如下: 性能指標(biāo)符合GB5170、2 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1) 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2) 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93(IEC68-2-3) 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da:交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30) GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法 GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法 GJB150.9-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法:濕熱試驗(yàn)》 GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》 GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)交變濕熱試驗(yàn)》 GJB367.2-1987《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》411 濕熱試驗(yàn) GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn) GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》 GB/T5170.5-96《濕熱試驗(yàn)設(shè)備》 GB10592-93《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》 GB10586-93《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》 以上是艾思荔生產(chǎn)的冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足的各種模擬環(huán)境試驗(yàn)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),如果你需要滿足以上測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的冷熱沖擊試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫濕熱交變?cè)囼?yàn)箱等測(cè)試設(shè)備,請(qǐng)艾思荔。